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InP上镀InP/InGaAs/InP薄膜
产品名称:InP上镀InP/InGaAs/InP薄膜(dia3”InP/InGaAs/InP EPI on InP ) 产品参数:薄膜生长方法:MOCVD deposition基底参数:N型
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InP上镀InGaAs薄膜
产品名称:InP上镀InGaAs薄膜(进口料Epi:?Lattice?matched?p-type?InGaAs:Zn)常规尺寸:dia 2" ;单抛标准包装:技术参数:1000级超净室100
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磷化铟(InP)晶体基片
产品名称:磷化铟(InP)晶体基片产品简介:技术参数:单晶:InP掺杂:None;Sn;S;Fe:Zn硬度:3.0莫氏硬度密度:4.78 g/cm3导电类型:N;N;N;Si;P折射率
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A-Z系列薄膜列表
DOSSi+SiO2+Ni薄膜Ga2O3-?薄膜Si+Cu薄膜GGG+YIG薄膜Si+Ta+Cu薄膜塑料上ITO膜;PEN塑料上镀ITO膜Si+SiO2+Ta+Cu薄膜InP上镀InP/InGaAs
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Si上镀Ge薄膜
产品名称:Si上镀Ge薄膜(进口?Ge?epi-film?on?N-type?Silicon?Wafer,?0.5?um?thickness?)技术参数:Si基片参数:N型掺P; dia
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Hall霍尔效应测试仪VDP 6800
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常温&液氮温度测试系统
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Hall8800霍尔效应测试仪器
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